幾種常見(jiàn)的芯片可靠性測(cè)試方法
可靠性測(cè)試對(duì)于芯片的制造和設(shè)計(jì)過(guò)程至關(guān)重要。通過(guò)嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計(jì)缺點(diǎn)、制造問(wèn)題或環(huán)境敏銳性,從而確保芯片在長(zhǎng)期使用中的性能和可靠性。這種測(cè)試旨在驗(yàn)證芯片在不同環(huán)境條件下的穩(wěn)定性、可靠性和持續(xù)性,以確