電子元器件的環(huán)境與可靠性試驗(yàn)
可靠性試驗(yàn)是為了確定已通過(guò)可靠性鑒定試驗(yàn)而轉(zhuǎn)入批量生產(chǎn)的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下是否達(dá)到規(guī)定可靠性要求,驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性是否隨批量生產(chǎn)期間工藝,工裝,工作流程,零部件質(zhì)量等因素的變化而降低。只有經(jīng)過(guò)這些,產(chǎn)品性能才是可以信任的,產(chǎn)品的質(zhì)量才是過(guò)硬