HAST試驗(yàn)有哪些測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和方法?
HAST試驗(yàn),即高加速溫濕度應(yīng)力測(cè)試,也被稱(chēng)為高壓蒸煮試驗(yàn)。它是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件可靠性測(cè)試方法。HAST試驗(yàn)旨在通過(guò)提高測(cè)試室中的水蒸氣壓力至遠(yuǎn)高于測(cè)試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的高水平,以評(píng)估測(cè)試樣品的耐濕性。
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