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第三方跌落試驗(yàn)怎么做-跌落試驗(yàn)申請(qǐng)條件是什么?

作者:KT 發(fā)布日期:2024-09-26

跌落試驗(yàn)的申請(qǐng)條件為何?在產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制流程中,跌落測(cè)試作為評(píng)估產(chǎn)品在意外跌落情境下性能的關(guān)鍵手段,日益受到眾多制造商的關(guān)注。此類(lèi)測(cè)試有助于制造商洞悉產(chǎn)品的抗沖擊性能與穩(wěn)定性,進(jìn)而確保產(chǎn)品在多樣化環(huán)境中的安全性和可靠性。

武漢金測(cè)檢測(cè),作為權(quán)威的第三方跌落測(cè)試機(jī)構(gòu),配備了專(zhuān)業(yè)的跌落試驗(yàn)設(shè)備,提供高質(zhì)量的第三方跌落試驗(yàn)服務(wù),并出具得到國(guó)內(nèi)外權(quán)威機(jī)構(gòu)認(rèn)可的中英文檢測(cè)報(bào)告。作為擁有CNAS資質(zhì)認(rèn)可的機(jī)構(gòu),武漢金測(cè)檢測(cè)在業(yè)界享有盛譽(yù),能夠滿足不同產(chǎn)品跌落測(cè)試的需求。

跌落測(cè)試是一種評(píng)估產(chǎn)品在意外跌落情境下性能的測(cè)試方法。通過(guò)人工模擬產(chǎn)品在使用、儲(chǔ)存、運(yùn)輸或裝配過(guò)程中可能遭遇的各種外界機(jī)械應(yīng)力,跌落測(cè)試有助于制造商評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用過(guò)程中的耐用性,并確保產(chǎn)品在不同環(huán)境下的安全性和可靠性。通過(guò)跌落測(cè)試,制造商能夠識(shí)別產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié),并采取相應(yīng)措施進(jìn)行改進(jìn),從而提升產(chǎn)品的質(zhì)量和用戶體驗(yàn)。


跌落臺(tái).jpg

武漢金測(cè)檢測(cè)嚴(yán)格遵循以下國(guó)際及國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行跌落測(cè)試:GB/T 2423.8《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落》、IEC60068-2-32《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落》、GB/T4857.5《包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法》。

在進(jìn)行跌落測(cè)試時(shí),試驗(yàn)表面、釋放高度和釋放方法是三個(gè)關(guān)鍵參數(shù)。武漢金測(cè)檢測(cè)會(huì)根據(jù)產(chǎn)品的特性和使用場(chǎng)景,靈活調(diào)整這些參數(shù),以確保測(cè)試結(jié)果的精確性和可靠性。

影響跌落概率的因素包括:1.包裝從極高處跌落的概率極低。2.大多數(shù)包裝會(huì)在較低高度多次跌落,而在較高高度跌落的次數(shù)相對(duì)較少。3.與單件包裝相比,組合包裝的跌落次數(shù)更少且跌落高度更低。4.大多數(shù)包裝基于其更穩(wěn)定的方位進(jìn)行運(yùn)輸,面朝下的跌落占總跌落次數(shù)的一半以上。5.包裝越重,跌落高度越低。6.包裝體積越大,跌落高度越低。7.包裝帶有提手可能會(huì)降低跌落高度。8.帶有警示標(biāo)簽如易碎、小心輕放等可能會(huì)減少跌落次數(shù),但效果并不顯著。

武漢金測(cè)檢測(cè)提供兩種主要的跌落測(cè)試類(lèi)型:1.裸機(jī)跌落測(cè)試,直接對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,通常包括六個(gè)面。2.包裝跌落測(cè)試,產(chǎn)品在包裝箱內(nèi)進(jìn)行測(cè)試,按照相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行角、棱、面跌落。

在進(jìn)行跌落測(cè)試時(shí),武漢金測(cè)檢測(cè)會(huì)根據(jù)產(chǎn)品的特性設(shè)定以下測(cè)試條件:跌落高度,測(cè)試的高度,根據(jù)產(chǎn)品重量確定,單位為毫米或米;跌落表面,產(chǎn)品接觸的表面,通常是鋼板;跌落位置,對(duì)產(chǎn)品的面、角、棱進(jìn)行測(cè)試;跌落次數(shù),裸機(jī)一般為每個(gè)面一次共六次,包裝件根據(jù)角棱面進(jìn)行跌落,一般為十次或二十六次。

完成跌落測(cè)試后,武漢金測(cè)檢測(cè)會(huì)對(duì)樣品進(jìn)行全面檢查,包括:外觀檢查,樣品外觀應(yīng)無(wú)深度刮痕、無(wú)深度變形、無(wú)破裂、螺絲釘無(wú)松動(dòng)等現(xiàn)象;拆機(jī)檢查,樣品內(nèi)部的器件、模塊、接插件、開(kāi)關(guān)、PCB等,無(wú)脫離、破裂、震斷現(xiàn)象;功能檢查,樣品能正常上電,檢測(cè)產(chǎn)品各功能,確保所有功能滿足要求。


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