高低溫低壓試驗是常見的環(huán)境可靠性試驗之一。當(dāng)產(chǎn)品通過航飛運輸或航海運輸時，會有一定的壓力值，壓力值會隨著環(huán)境的變化而變化。為了評估產(chǎn)品的壓力耐受性，產(chǎn)品出廠時需要進(jìn)行低壓試驗。
 
高低溫低壓試驗主要用于航飛、電子、國防、科研等領(lǐng)域。設(shè)備用于模擬高壓環(huán)境，確定儀器、電子電氣產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低壓和溫度環(huán)境條件下的儲存、運輸或使用適應(yīng)性，測試試件的電氣性能參數(shù)。

 
低壓環(huán)境可能導(dǎo)致設(shè)備或產(chǎn)品產(chǎn)生以下物理化學(xué)效應(yīng)：
a、密封墊密封的殼體泄漏和液體泄漏；　　
b、變形、損壞或破裂密封容器；
c、低 密度材料的物理和平靜性能發(fā)生了變化；
d、由于熱傳導(dǎo)降低，設(shè)備過熱；
e、蒸潤滑劑；
f、發(fā)動機啟動和工作不穩(wěn)定；
g、真空密封失效；
 
低壓試驗是將試驗樣品放入試驗箱中，然后將試驗箱中的氣壓降低到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值，并保持規(guī)定的持續(xù)時間。本試驗適用于飛機貨艙內(nèi)空運產(chǎn)品、高原上使用的產(chǎn)品和空運產(chǎn)品，飛機受傷后壓力迅速下降。
測試的苛刻程度取決于溫度、低壓和暴露持續(xù)時間。
武漢金測試技術(shù)有限公司實驗室引進(jìn)了先進(jìn)的高低溫低壓試驗箱，可進(jìn)行單低壓試驗、高溫低壓試驗、低溫低壓試驗、高低溫低壓試驗。
相關(guān)試驗標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.27-2020環(huán)境試驗 位于2部分：試驗方法 GJb150.2A-2009年軍工裝備實驗室環(huán)境試驗方法
GJb低壓(高度)試驗 105年360B-2009年電子電氣元件試驗方法
GJb低壓試驗 1001低壓(高空工作)548B-2005方法1001低壓微電子器件試驗方法及程序
 
設(shè)備參數(shù)
試驗區(qū)尺寸：1000*1000*1000mm(內(nèi)容積512L)
溫度范圍：-40～ 150℃
使用環(huán)境周溫： 5～ 30℃之間
升降溫率:1℃/min
壓力范圍：常壓~0.5kpa
降壓速率：常壓~1kpa≤30min

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